ASTM F 817-1983 薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 08:49:45 浏览:8549
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【英文标准名称】:TestMethodforCharacterizationofFilmResistorMaterialsandProcesses
【原文标准名称】:薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法
【标准号】:ASTMF817-1983
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;非线绕电阻器;电子工程;特性;工艺;材料
【英文主题词】:components;electronicengineering;materials;non-wirewoundresistors;processes;characteristics
【摘要】:
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法
【标准号】:ASTMF817-1983
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;非线绕电阻器;电子工程;特性;工艺;材料
【英文主题词】:components;electronicengineering;materials;non-wirewoundresistors;processes;characteristics
【摘要】:
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
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