DIN IEC 60749-1987 半导体装置.机械和气候试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-04-19 20:49:40 浏览:9423
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;mechanicalandclimatictestmethods;identicalwithIEC60749,edition1984
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法
【标准号】:DINIEC60749-1987
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1987-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;组件;半导体器件;半导体;气候试验;试验方法;气候;电气工程;试验;电子工程;环境试验;集成电路;电学测量;电子设备及元件;机械试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:18P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法
【标准号】:DINIEC60749-1987
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1987-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;组件;半导体器件;半导体;气候试验;试验方法;气候;电气工程;试验;电子工程;环境试验;集成电路;电学测量;电子设备及元件;机械试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:18P;A4
【正文语种】:德语
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