IEEE 1450.1 Errata-2005 半导体设计环境用标准试验接口语言(STIL)的扩展(IEEEStd1450-1999)

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 14:50:59  浏览:8786   来源:标准资料网

【英文标准名称】:ExtensiontoStandardTestInterfaceLanguage(STIL)(IEEEStd1450-1999)forsemiconductordesignenvironments
【原文标准名称】:半导体设计环境用标准试验接口语言(STIL)的扩展(IEEEStd1450-1999)
【标准号】:IEEE1450.1Errata-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:计算机辅助软件工程;数据处理;数据加工;信息交换;信息技术;接口;半导体;试验图;试验规程
【英文主题词】:Computeraidedsoftwareengineering;Datahandling;Dataprocessing;Informationinterchange;Informationtechnology;Interfaces;Semiconductors;Testpattern;Testprocedures;Testing
【摘要】:StandardTestInterfaceLanguage(STIL)providesaninterfacebetweendigitaltestgenerationtoolsandtestequipment.Extensionstothetestinterfacelanguagearedefinedthata)facilitatetheuseofthelanguageinthedesignenvironmentandb)facilitatetheuseofthelanguageforlargedesignsencompassingsub-designswithreusablepatterns.
【中国标准分类号】:L74
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:英语